期刊文献+

X射线对复合绝缘子内部缺陷的透照检测和诊断 被引量:3

Realizing of FC Bus Communication Based on ADuC842
下载PDF
导出
摘要 复合绝缘子因其质轻耐污强度高和易维护,在中国已挂网运行近千万只,但是复合绝缘子因其特殊性,传统绝缘子的检测方法对其并不完全适用,复合绝缘子的发展亟待新型检测技术的出现。笔者运用X射线透视检测技术对复合绝缘子进行透照能力验证并得到推荐参数后,利用该参数对伞套区、芯棒区、伞套与芯棒胶结面、金具区段等4大区域的模拟缺陷进行检测,对成批的复合绝缘子进行现场检测,所获X射线成像图上复合绝缘子内部结构直观可见、缺陷类型及其位置清晰可辨、护套厚度芯棒直径等可测。研究结果可作为X射线透视检测技术对复合绝缘子进行缺陷检测以及型式检测的实践参考依据。 This paper describes an using method of ADuC842"s PC control register 12CCON in master mode combining with ex amples about how to program the 12C communication functions and also gives an example in the using of DS3231.
出处 《工业控制计算机》 2012年第9期58-59,62,共3页 Industrial Control Computer
  • 相关文献

参考文献3

共引文献1

同被引文献22

引证文献3

二级引证文献8

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部