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EI-5Z电子束镀膜机膜厚控制的改善

Improvement of film uniformity for EI-5Z electron beam coater
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摘要 分析了EI-5Z型电子束镀膜机膜厚控制的特点。借助试验结果和理论研究,重新设计了更具实用性的调整板,得到了更好的薄膜性能:基片内偏差在±3%范围内,同一批次基片之间偏差在±5%范围内。满足了批量生产的要求。 Study the fihn unirmity characteristics of EI-SZ eleclron beam coater.By use of the experimental resuhs and theoretical study, the correction masks with practicability was redesigned, obtaining better deposition performance, + 3% in a substrate and + 5% in the same batch.This meets the mass production demands.
作者 臧成东
机构地区 中国电科第
出处 《真空》 CAS 2012年第5期49-52,共4页 Vacuum
关键词 薄膜均匀性 调整板 批量生产 film uniformity correetion mask mass production
  • 相关文献

参考文献3

  • 1顾培夫.薄膜技术[M].杭州:浙江大学出版社,1993.162. 被引量:3
  • 2Villa F,Martinez A,Luis E.Regalado.Correction masks for thickness "uniformity in large-area films[J].Applied Optics, 2000,39(10): 1602-1610. 被引量:1
  • 3ULVAC Corp,EI-5Z high vacuum evaporation system instruction manual[R]. 被引量:1

共引文献2

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