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基于神经网络方法预测薄膜的厚度 被引量:1

Neural Networks Models on Thickness of Thin Film\+*
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摘要 首次利用前馈三层神经网络模型 ,建立了场发射薄膜的膜厚的神经网络预测模型 ,用金刚石薄膜的膜厚数据进行验证 .结果表明 ,该模型预测的相对误差小于 6.1 % . A neural network model for prediction the thickness of thin film is established by using of firstly the BP model taken into account the characteristic of field\|emission in thin film. The data of thicknesses of diamond thin film is used to test the model. The results show that relative error of the prediction is within 6 1% and possess good forecast characteristics.
出处 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第4期400-403,共4页 半导体学报(英文版)
基金 国家自然科学基金!( 696760 0 4 ) 教育部博士点基金!( 960 6980 3 )
关键词 金刚石薄膜 厚度 预测 神经网络 场发射薄膜 thin film thickness prediction neural network
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参考文献3

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