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联芯科技率先通过TD—LTE／TD—SCDNIA双模MTnet测试

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摘要联芯科技已成功通过各项技术测试，成为首家入围MTnet测试第二阶段双模技术验证的芯片厂商。截至目前，入围MTnet测试第二阶段的芯片厂商仅三家，他们都即将参与第二阶段“6＋1城市”规模技术试验。

出处《集成电路应用》 2012年第2期46-46,共1页 Application of IC

关键词测试双模科技 LTE TD 技术试验芯片厂商二阶

分类号 O431 [机械工程—光学工程]

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集成电路应用

2012年第2期

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