期刊文献+

SMT电子组件及焊点的失效判定与切片金相分析 被引量:1

下载PDF
导出
摘要 在当前的SMT日常生产与品质管理中,如何从电子组件(PCBA)及焊点扑朔迷离的失效问题中,快速而准确地找到缺陷位置并做出正确判定,是品质与工程技术人员的重要工作和技能。而SMT工艺和电子封装技术的进步,元器件的引脚或焊端的微小型化,以及某些隐藏于封装体下方的焊点,由于不便于直接目视检查等问题,无疑增加了生产品质和失效分析的困难度。比如细问距的BGA/CSP等类似器件的失效分析与不良判定,需要更高阶的分析仪器和分析方法。电子组件及焊点的失效分析,是获取失效机理与原因从而进行客诉对策和改善的基本手段,只有熟练掌握并运用这些技术比如金相微切片(CrossMicro-section)分析等,才能及时获得产品的改进依据。
作者 杨根林
出处 《现代表面贴装资讯》 2011年第6期41-49,共9页 Modern Surface Mounting Technology Information
  • 相关文献

同被引文献2

引证文献1

二级引证文献2

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部