快氢分子离子在碳膜中的能量损失测量

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摘要六十年代初发现H2+和H+在薄膜中的能损有差异。它反应了分子离子和原子离子在碰撞过程中有不同的规律。由于在薄膜中快粒子的入射和出射能量差值很小,透射能谱有一定的展宽,这给直接测量决定能损带来困难。本工作利用高分辨库能爆炸技术(能量分辨率为1.8×10-4FWHM)直接测量了H2+和H+在薄膜中的能量损失。

作者杨百方缪竞成师勉恭雷晓兰

机构地区四川大学原子核科学技术研究所

出处《原子与分子物理学报》 CAS CSCD 北大核心 1990年第S1期247-248,共2页 Journal of Atomic and Molecular Physics

基金国家自然科学基金

关键词分子离子能量损失能量分辨率阻止本领碰撞过程爆炸技术碳膜分子团 FWHM 直接测量

分类号 O4 [理学—物理]

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原子与分子物理学报

1990年第S1期

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