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微机主板与RAM的匹配及软故障排除对策

Matching Problem about Motherboard and RAM And Its Soft-Trouble shooting
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摘要 本文通过微机实践和RAM 匹配软故障发生情况分析,总结了主板控制器件、CPU 速度、RAM 三者特性匹配的规律和软故障形成的原因。特别是解决了微机多区域RAM的衔接故障和由RAM 引起的停机原因。并注重实际问题的解决方法,可操作性强。 This paper comments soft-trouble shooting from system matching with RAM through practice. It is found that forming reasons about soft-trouble and matching regulation among controling device,CPU speed and RAM Timing. It is also given the solution methods for the practice. Especially, it results the problem missing Match with different BANK which is unable test real memory.
作者 胡建人
出处 《杭州电子科技大学学报(自然科学版)》 1999年第4期68-72,共5页 Journal of Hangzhou Dianzi University:Natural Sciences
关键词 RAM 器件匹配 软故障 跨区域 RAM,Matching with device,Soft-Trouble, Over bank
  • 相关文献

参考文献2

二级参考文献4

  • 1胡建人,计算机时代,1992年,1期 被引量:1
  • 2团体著者,电子爱好者实用资料大全,1989年 被引量:1
  • 3团体著者,TTL集成电路,1985年 被引量:1
  • 4团体著者,MOS场效应晶体管的应用,1982年 被引量:1

共引文献3

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