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X荧光分析和计算机数据处理在一级标准物质研制中的应用

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摘要 一、前言随着标准技术的发展和管理日趋现代化,国家对一级标准物质的研制提出了更严格的要求。特别在均匀性检查数据处理和分析定值方面,如试样加工过程中的均匀性初检,最小分装单元的随机抽样,随机抽样后的均匀性检查,分析结果汇总。
机构地区 钢铁研究所
出处 《武钢技术》 CAS 1990年第1期57-62,共6页 Wisco Technology
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