摘要
超声波探伤中,首先要对仪器进行时基线扫描速度调节.缺陷反射波在时基线上的位置就代表缺陷在工件中的位置,如果时基线扫描速度的调节存在误差,缺陷定位亦将产生误差.超声横波探伤时基线扫描速度的调节通常有声程调节法、水平位置调节法和深度位置调节法,采用的标准试块(以JB 4730—94《压力容器无损检验》标准为例)为CSK-ⅠA试块及横孔试块(CSK-ⅡA,CSK-ⅢA,CSK-ⅣA).选择调节方法时,既要快捷又要准确,下面分别讨论CSK-ⅠA试块和横孔试块调节法.1CSK-ⅠA试块法将斜探头探测到CSK-ⅠA试块上的两个圆弧R50和R100的最大回波并分别调整到时基线上的适当位置,以获得所需要的缺陷定位比例.1.1 声程调节法如图1移动斜探头,将R50和R100圆弧的最大反射波分别调节到示波屏上与S_1和S_2相对应的位置。
出处
《无损检测》
1999年第10期454-455,458,共3页
Nondestructive Testing
