期刊文献+

高厚径比值密集盘内孔树脂塞孔研究 被引量:7

Study on resin plugging hole of dense VIP with high aspect ratio
下载PDF
导出
摘要 设计DOE试验,对高厚径比值密集盘内孔(AR≥1 0,孔心距≤0.80mm)树脂塞孔进行了研究,通过分析确定了塞孔角度是影响树脂塞满度的主要因素,并找到了高厚径比值密集盘内孔树脂塞孔的最佳工艺参数。 This paper studied on resin plugging hole of dense VIP with high aspect ratio(AR≥10,pitch≤0.80 mm) through DOE.Analysis showed that the angle of plugging hole mainly affected the resin satiation of the hole.Finally,optimum parameters were found out to plug dense VIP with high aspect ratio.
出处 《印制电路信息》 2011年第4期72-75,共4页 Printed Circuit Information
关键词 高厚径比值 密集盘内孔 树脂塞孔 high AR dense VIP resin plugging hole
  • 相关文献

参考文献2

  • 1李金鸿,黄云钟.POFVI艺流程研究[M].第四届全国青年印制电路学术年会论文汇编,2010. 被引量:1
  • 2何为编著..优化试验设计法及其在化学中的应用[M].成都:电子科技大学出版社,2004:397.

同被引文献34

引证文献7

二级引证文献16

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部