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晶胞点阵参数的精确测定 被引量:1

The Accurate Determination of Crystal Lattice Parameters
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摘要 介绍了晶胞点阵参数精确测定的方法 ,并精确测定了铝板的精胞点阵参数。 A new method dealing with the determination of crystal lattice parameters is presented in this paper and its application to that of aluminum plate is also discussed.
出处 《广州化学》 CAS 1999年第3期25-30,共6页 Guangzhou Chemistry
基金 中国科学院广州分院测试中心资助
关键词 晶胞参数 点阵参数 X射线衍射 测定 XRD X-ray diffraction,crystal lattice paramerter
  • 相关文献

参考文献3

  • 1杨于兴,漆王睿编..X射线衍射分析[M].上海:上海交通大学出版社,1989:214.
  • 2黄胜涛.固体X-射线学(一)[M].高等教育出版社,1985.237-243. 被引量:1
  • 3韩建成等著..多晶X射线结构分析[M].上海:华东师范大学出版社,1989:312.

同被引文献1

引证文献1

二级引证文献1

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