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飞秒光脉冲Z扫描技术测量纳米银颗粒非线性折射率 被引量:2

MEASUREMENT OF SILVER NANOPARTICLE NONLINEAR INDEX BY FEMTO SECOND PULSE Z SCANNING TECHNOLOGY
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摘要 本文首次报道了用飞秒脉冲光Z扫描技术测量纳米银悬浮粒子的非线性折射率.从物理机制及理论上对Z扫描进行了分析,并对纳米悬浮粒子的有效长度进行了估算.利用标准样品对系统进行了标定.最后得到了纳米银粒子的非线性折射率为6.75×10-10esu. The nonlinear refraction index of silver nanoparticles was measured with Ti∶Sapphire femtosecond laser.The result showed that the value of nonlinear refraction index is 6.75×10esu.The measurement system was detected by standard sample CS 2 and the result is fairly consistent with the reported values.Based on the foundation of self focus,it is also discussed its physical mechanism theoretically.
出处 《光子学报》 EI CAS CSCD 1999年第5期401-405,共5页 Acta Photonica Sinica
关键词 Z扫描 飞秒光 非线性折射率 纳米 银颗粒 Z scaning Femtosecond pulse Nonlinear index
  • 相关文献

参考文献6

二级参考文献10

共引文献15

同被引文献29

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引证文献2

二级引证文献9

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