期刊文献+

确保更精确的高电阻测量 被引量:3

下载PDF
导出
摘要 0引言 高电阻测量已成为多种测试应用的组成部分,包括印制电路板的表面电阻(SIR)测试、绝缘材料和半导体的电阻率测量、高欧姆值电阻的电压系数测试等。确保高电阻测量(即高于1G【109欧姆】的电阻)的精度需要使用大量的特殊技术和仪器,例如静电计、源测量单元(SMU)、或皮可安培计/电压源组合。静电计可以采用恒压或恒流的方法测量高电阻。
作者 Dale Cigoy
机构地区 吉时利仪器公司
出处 《国外电子测量技术》 2010年第8期6-7,共2页 Foreign Electronic Measurement Technology
  • 相关文献

同被引文献36

引证文献3

二级引证文献31

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部