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自动扫描测试技术及其在半导体器件测试中的应用被引量：1

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摘要以ＣＤ－ＲＯＭ半导体激光器为例，介绍了半导体器件测试的计算机自动扫描技术及其接口电路。这种技术方便、快捷、准确，不需要对器件进行制冷和温度控制即可得到特性曲线与温度变化的关系。

作者吴淑萍董天临

机构地区华中理工大学

出处《电测与仪表》北大核心 1999年第2期23-24,11,共3页 Electrical Measurement & Instrumentation

关键词计算机半导体激光器半导体器件自动扫描测试

分类号 TN248.406 [电子电信—物理电子学]

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1董天监.光纤通信原理和新技术[M].武汉:华中理工大学出版社,1998.. 被引量：1

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1孟庆全.楼宇自动控制专用开关电源的BIT设计[J].安徽大学学报（自然科学版）,2003,27(4):68-72.

1龚世耀.数字集成电路的自动扫描测试(续)[J].实验室研究与探索,1990,9(3):65-68.
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电测与仪表

1999年第2期

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