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基于CPLD的激光合成波长干涉信号处理方法 被引量:1

Signal Processing Method of the Laser Synthetic Wavelength Interferometry Based on CPLD
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摘要 介绍了激光合成波长干涉纳米位移测量的原理,设计了基于复杂可编程逻辑器件(CPLD)的激光合成波长干涉纳米位移测量信号处理系统,包括信号前置处理电路的设计和CPLD信号处理模块的设计。采用Visual Basic自带的MSComm控件实现了PC机与CPLD之间的通信,对实验过程进行了实时监控。在恒温恒湿条件下,分别以5nm和10nm为步长进行了位移测量实验,实验结果表明:在测量镜移动0-200nm范围内,测量结果线性相关系数分别为0.9991和0.9998,标准偏差分别为1.85nm和2.54nm,验证了所设计的信号处理系统能够实现纳米级位移测量精度的要求,具有较高的可靠性和实用性。 The laser synthetic wavelength interferometric nano-displacement measurement is intro- duced. A signal processing system for the measurement based on Complex Programmable Logic Device (CPLD)is designed, including the design of signal pre-processing circuit and CPLD processing module. A PC software is also designed that the MSComm ActiveX of Visual Basic is used to realize the communica- tion between PC and CPLD module, and it can monitor the experiment in real time. Under the condition of constant temperature and humidity, displacement measurement experiments with 5nm and 10nm deplace- ment increment are carried out. The experimental results show that the linear correlation coefficient is 0. 9991 and 0. 9998 with the standard deviations of 1. 85nm and 2. 54nm over a range of 200 nm, respectively. This demonstrates that the designed system has high reliability and practicability.
出处 《浙江理工大学学报(自然科学版)》 2010年第2期239-243,258,共6页 Journal of Zhejiang Sci-Tech University(Natural Sciences)
基金 国家自然科学基金项目(50827501)
关键词 激光干涉 合成波长 CPLD 纳米位移测量 信号处理 laser interferometer synthetic wavelength CPLD nano-displacement measurement sig- nal processing
  • 相关文献

参考文献9

二级参考文献14

  • 1韩昌元,刘斌,卢振武,张晓辉,顾去吾.共路外差表面轮廓仪[J].光学学报,1993,13(7):670-672. 被引量:6
  • 2徐毅.高精度微位移差拍干涉仪[J].计量学报,1990,11:32-34. 被引量:1
  • 3关信安 袁树忠 等.双频激光干涉仪(第一版)[M].北京:中国计量出版社,1987.1-5. 被引量:1
  • 4梁铨廷.物理光学(第一版)[M].北京:机械工业出版社,1980.30-33. 被引量:1
  • 5徐毅,计量学报,1990年,11卷,32页 被引量:1
  • 6新谷隆一.偏振光[M].上海:原子能出版社,1994.10-60. 被引量:6
  • 7严家骅.纳米校准技术研究[R].北京:长城计量测试研究所,2000.. 被引量:2
  • 8Downs M J, Nunn J W. Verification of the sub-nanometric of an NPL differential plane mirror interferometer with a capacitance probe[J]. Meas Sci Technol, 1998,9(7-9):1437-1440. 被引量:2
  • 9Chen Benyong , Cheng Xiaohui , Li Dacheng. Dual-wavelength interferometric technique with subnanometric resolution[J]. Applied Optics, 2002, 41(28):5933-5937. 被引量:1
  • 10孟庆申,张逸超,屈进禄.一种高准确度干涉条纹计数器[J].物理通报,1997,18(7):31-32. 被引量:1

共引文献41

同被引文献6

引证文献1

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