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2009IEEEEMC学术研讨会——获奖文章(一)

2009 IEEE Symposium on EMC Award Winning Paper Part 1
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摘要 针对单端传输线的去嵌入已经被广泛应用,但还没有针对被耦合传输线的去嵌入技术,文章提出了针对被耦合传输线的去嵌入技术,这种去嵌入技术采用单端TRL校准图,而其结果可以通过矢量网络分析仪(VNA)的误差校正数据直接得到。
出处 《安全与电磁兼容》 2009年第5期10-14,79,共6页 Safety & EMC
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