摘要
本文阐述用扫描探针显微技术获取样品表面功函数、局域态密度以及原子表观半径的基本理论和方法，提出了根据这些表面信息进行原子识别的基本思想。
The basic theories and methods of imaging the work functions,local density of states (LDOS)and the apparent radius of atomic states on the sample surfaces by Scanning Tunneling Microscopy are described.The principle of the discrimination of atoms is suggested according to these kinds of information.
出处
《仪器仪表学报》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1998年第4期373-376,共4页
Chinese Journal of Scientific Instrument
基金
国家自然科学基金
博士点基金
关键词
原子识别
扫描隧道显微镜
功函数
局域态密度
Atom identification,Scanning tunneling microscope,Work function,Local density of state,Apparent radius.
