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投影云纹偏转法用于DKDP晶体生长研究

Projection Moire Deflectometry for DKDP Crystal Growth Research
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摘要 溶液晶体生长与溶液的过饱和度及浓度有关。本文用投影云纹偏转法实时显示和定量测量DKDP晶体的浓度扩散层内的浓度梯度和晶面浓度,以决定生长所采用的方法。 In this paper, in order to observe the concentration variation,study the reaction process and mechanism and determine the way in crystal growth,the concentration gradient and the concentration of crystal surface solution in the concentration difussion layer of DKDP crystal are shown in real time and measured quantitatively by using projection moire deflectometry.
作者 董金锠
出处 《应用激光》 CSCD 北大核心 1998年第3期131-132,共2页 Applied Laser
关键词 云纹法 DKDP 晶体生长 crystal growth from solution, projection moire, DKDP
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参考文献3

  • 1董金--,应用激光,1991年,11卷,2期,60页 被引量:1
  • 2黄金--,人工晶体,1988年,17卷,2期,123页 被引量:1
  • 3杨国光,近代光学测试技术,1986年,188页 被引量:1

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