期刊文献+

EXL能谱仪薄样品X线的定量分析

THE QUANTITATIVE ELECTRON MICROANALYSIS OF THIN SECTIONS USING EXL─TYPE EDX
下载PDF
导出
摘要 研究了Link公司能谱仪中RTS软件(薄膜定量分析软件)可靠性及适用性。实验结果表明:RTS软件定量分析结果误差较小。但对C、N、O等轻元素定量分析,试样厚度小于1500以下时,结果才比较可靠。 The present work examines the reliability and suitability of software for quantitative electron microanalysis of thin sections (it is RTS software) using Exl type single window energy dispersive X-ray (EDX) detector. It is found that the error of quantitative analysis is less for the RTS software,but only if the thickness of specimen is less than 1500A,the quantitative analysis result using RTS software is reliability for light elements such as C,N,O element.
作者 文慕冰
机构地区 武钢技术中心
出处 《钢铁研究》 CAS 1998年第3期43-47,共5页 Research on Iron and Steel
关键词 薄膜 定量分析 误差 能谱 化学分析 thin section quantitaive analysis error energy disperscie X-ray
  • 相关文献

参考文献1

  • 1朱静等编著..高空间分辨分析电子显微学[M].北京:科学出版社,1987:395.

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部