摘要
最近的研究表明，机械加工表面的微观形貌具有自仿射性和多尺度性，因而表面形貌的高度分布方差、斜率和曲率的方差不再是唯一的。基于分形几何理论，用Weierstrass－Mandelbrot分形函数来表征表面的微观形貌，所得到的参数是不依赖于测量尺度而变的“固有”参数。根据分形几何建立的表面轮廓的数学模型可对表面轮廓进行模拟，为建立三维表面形貌的评定参数提供理论依据。
In recent studies, micro-topogra-phy measurements on a variety of machined sur-faces have shown their topographies are self-affinity and multiscale. This implies that the sta-tistical paramaeters Such as the variances of theheight,the slope and the curvature used for char-acterization are not unique for a particular sur-face. In this paper the Weierstrass-Mandelbrotfractal function is used to introduce a new andsimple method of characterization and simulationof surface micro-topography.
出处
《中国机械工程》
EI
CAS
CSCD
北大核心
1997年第5期78-80,共3页
China Mechanical Engineering
基金
国家自然科学基金!59375252
关键词
分形几何
表面微观形貌
分形表征
粗糙度
fractal geometry surface mi-cro-topography fractal characterizationroughness
