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避免键联接产生装配干涉的公差设计方案

Tolerancing design methods of avoiding assembly interferences in key connections
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摘要 分析了键联接进行装配时产生干涉的具体情况,介绍了保证键联接顺利装配的2种公差设计方案,并对各方案的含义、图样标注和应用特点进行了介绍。 The various situations of assembly interference in the key connections are analysed. Two tolerancing design methods of guaranteeing the key connections are introduced. The concepts, the marks in drafts and the special features of both methods are introduced.
出处 《河北工业科技》 CAS 2008年第5期278-280,共3页 Hebei Journal of Industrial Science and Technology
关键词 键联接 对称度 延伸公差带 最小实体要求 key connection symmetry tolerance extension tolerance zone least material requirement
  • 相关文献

参考文献6

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  • 2GB/T17773-1999,形状和位置公差延伸公差带及其表示法[S]. 被引量:2
  • 3陈于萍,高晓康编著..互换性与测量技术 第2版[M].北京:高等教育出版社,2005:255.
  • 4刘巽尔编著..形状和位置公差 原理与应用[M].北京:机械工业出版社,1999:155.
  • 5桂定一.最小实体要求应用分析及工艺建议[J].湖北工学院学报,2003,18(2):91-92. 被引量:2
  • 6黄云清.公差配合与技术测量[M].北京:机械工业出版社,2004. 被引量:1

二级参考文献3

  • 1.GB.16671/T-1996.形状和位置公差最大实体要求、最小实体要求和可逆要求[S].,.. 被引量:1
  • 2.GB 4249/T-1996.公差原则[S].,.. 被引量:1
  • 3.GB 8069-87.位置量规[S].,.. 被引量:1

共引文献3

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