泰克为下一代DDR3存储器推出最完善的系列测试工具
出处
《电子测试》
2008年第5期98-98,共1页
Electronic Test
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1泰克为下一代DDR3存储器推出最完善的系列测试工具[J].电子测量技术,2008,31(3):191-191.
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2泰克为下一代DDR3存储器推出最完善的系列测试工具[J].电子工业专用设备,2008,37(4):69-70.
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3泰克推出更完善的系列测试工具[J].测控技术,2008,27(4):84-84.
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4Altera率先在业界实现对新的JEDEC DDR3 SDRAM标准的全面支持[J].电子与电脑,2007(8):62-62.
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5王继斌.DDR3存储器前沿技术分析[J].科技信息,2009(34). 被引量：1
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6泰克为DDR3存储器设计调试和检验提供完整的测试解决方集[J].可编程控制器与工厂自动化（PLC FA）,2009(7):13-13.
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7金俊英,秦娟.DDR3内存的PCB仿真与设计[J].中国科技信息,2013(23):65-69. 被引量：4
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8泰克为DDR3存储器设计调试和检验提供完整的测试解决方案[J].微计算机信息,2009,25(24):256-256.
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9针对下一代DDR3存储器的系列测试工具[J].今日电子,2008(5):105-105.
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10李博,胡建萍.同步动态随机访问存储器控制器的设计[J].杭州电子科技大学学报（自然科学版）,2009,29(2):21-24.
