摘要
2008年2月，美国国家仪器有限公司（National Instruments，简称NI）宣布正式发布其第一款基于PXI的源测量单元（source meas ureunit，SMU）和业界最高密度的PXI开关模块。这两款产品将PXI平台的应用延伸至高精密度直流测试领域．如半导体参数测试及电子设备器件的验证。工程师们可以同时使用这两款模块在多管脚设备上扫描电压和电流的特征参数，相比传统的方式，具有轻便小巧、性价比高的优点。
出处
《仪器仪表标准化与计量》
2008年第2期I0005-I0005,共1页
Instrument Standardization & Metrology
