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话筒管的可靠性试验

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摘要 话筒管的可靠性试验张鸿升河南省新乡市半导体厂（新乡４５３００２）有的半导体器件生产厂，早已把高温反偏试验列入产品的环境和寿命试验项目，甚至于当做一种筛选手段，或当成一项重要考核内容。高温反偏试验对于单栅结型场效应晶体管的影响更显得非常突出。由于结型场...
作者 张鸿升
机构地区 河南省新乡市半导体厂
出处 《半导体技术》 CAS CSCD 北大核心 1997年第5期57-59,共3页 Semiconductor Technology
关键词 活筒管 结型 场效应晶体管 可靠性 试验
分类号 TN386.606 [电子电信—物理电子学]
  • 相关文献
半导体技术
1997年 第5期

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