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如何利用DFT技术减轻测试对设计的影响

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摘要可测试性设计（DFT）本质上是为了确保复杂设计能得到全面彻底的测试。随着设计中门数的增长和制造工艺技术的发展，测试需求也在不断提升。幸运的是，DFT技术的发展消除了主要的设计需求和测试限制。

出处《电子电路与贴装》 2007年第3期83-85,共3页 Electronics Circuit & SMT

关键词可测试性设计 DFT技术制造工艺技术测试需求

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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电子电路与贴装

2007年第3期

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