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双丝像质计介绍被引量：2

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摘要介绍双丝像质计的结构、测定原理和使用,并简单介绍了双丝像质计与线对卡应用的关系。

作者郑世才

机构地区航天

出处《无损探伤》 2007年第3期32-34,共3页 Nondestructive Testing Technology

关键词双丝像质计线对卡不清晰度

分类号 TG115.28 [金属学及工艺—物理冶金]

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参考文献16

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10ASTM E 1416-04 Test Methods for Radioscopic Examination of Weldments 被引量：1

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无损探伤

2007年第3期

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