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标准之争继续 市场容量巨大——正在起飞的超宽带无线电技术UWB

Emerging UWB technology
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作者 程广
出处 《中国无线电》 2006年第6期10-12,共3页 China Radio
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参考文献1

二级参考文献6

  • 1Hite L R,Lu H,Houston T W,et al.An SEU resistant 256K SOI SRAM[].IEEE Transactions on Nuclear Science.1992 被引量:1
  • 2Alles M L,Kerns S E,Massengill L W.Body tie placement in CMOS/SOI digital circuits for transient radiation environments[].IEEE Transactions on Nuclear Science.1991 被引量:1
  • 3Davis G E,Hite L R,Blake T G W,et al.Transient radiation effects in SOI memories[].IEEE Transactions on Nuclear Science.1985 被引量:1
  • 4Boesch H E,Taylor T L,Hite L R,et al.Time-dependent hole and electron trapping effects in SIMOX buried oxide[].IEEE Transactions on Nuclear Science.1990 被引量:1
  • 5Benedetto J M,Boesch H E.The relationship between 60 Co and 10keV X-ray damage in MOS devices[].IEEE Transactions on Nuclear Science.1986 被引量:1
  • 6Fleetwood D M,Tsao S S,Winokur P S.Total-dose hardness assurance issures for SOI MOSFET[].IEEE Transactions on Nuclear Science.1988 被引量:1

共引文献8

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