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使用时间可控发射方法来进行模拟电路的失效分析

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摘要 时间可控发射方法(TRE)是一种常用的非入侵式波形测量方法,它能从芯片的背面探测芯片内部节点的时序波形。完美的TRE系统能提供很高的带宽(〉5GHz),很好的探测尺寸精度(0.25微米),而且能显示芯片内部所有节点的波形。TRE波形一般用于探测不正确的信号电平,电路竞争和冒险问题以及几皮秒的高精度时序错误。
出处 《集成电路应用》 2006年第7期45-46,共2页 Application of IC
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