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塑封高压二极管芯片国产化试验
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摘要
本文介绍了运用正交试验法,试制出塑封高压(高档)二极管芯片的方法,为提高功率二极管的高档品率以及芯国产化提供了一个好途径。
作者
刘庆
王国栋
张春芳
周树梅
张美凤
机构地区
如皋无线电厂
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第3期8-11,共4页
Semiconductor Technology
关键词
塑封
整流二极管
芯片
高压二极管
分类号
TN313.1 [电子电信—物理电子学]
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半导体技术
1990年 第3期
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