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基于扫描的DFT对芯片测试的影响被引量：1

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摘要本文首先简要地介绍了基于扫描的DFT技术,然后具体结合一种控制芯片,通过对两种测试方法的比较,说明了DFT对芯片测试向量、故障覆盖率及测试成本等的影响。

作者刘玲玲周文夏宇闻徐微邵寅亮

机构地区北京航空航天大学巨数微电子公司

出处《电子设计应用》 2006年第3期100-102,共3页 Electronic Design & Application World

关键词 DFT 自动测试向量生成故障覆盖率芯片

分类号 TP334.22 [自动化与计算机技术—计算机系统结构] TP368.1 [自动化与计算机技术—计算机科学与技术]

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电子设计应用

2006年第3期

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