摘要
采用遗传算法,对横电磁波传输室(TEM CELL)内的芯板结构参数做了优化,优化结果增加了横电磁波传输室(TEM CELL)的测试区域,提高了传输室的效费比。同时也验证了遗传算法解决此类问题的有效性。
The method of genetic algorithm is employed to modify the Septum of the TEM cell for expanded test region. The result of the examples indicate that optimal solutions can be obtained for the problem by the genetic algorithm.
出处
《微波学报》
CSCD
北大核心
2006年第1期62-64,共3页
Journal of Microwaves