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Cr:LiCaAlF_6晶体的缺陷研究

Investigation of Defects in Cr:LiCaAlF_6 Crystal
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摘要 本文报道了用化学腐蚀、光学显微镜、扫描电子显微镜、X射线能谱分析等方法观测布里奇曼法生长的Cr:LiCaAlF_6(简称Cr:LiCAF)晶体中的缺陷。分析讨论了晶体中缺陷的形成原因和减少缺陷的措施。 The defects in Cr:LiCaAlF_6 crystal grown by Bridgman method were investigated by means of chemical etching,optical microscopy,scanning electron microscopy and X-ray energy distribution analysis,respectively,The formation of the defects and the measure of reducing defects in crystal are discussed.
出处 《人工晶体学报》 EI CAS CSCD 1995年第3期222-226,共5页 Journal of Synthetic Crystals
关键词 激光晶体 晶体 缺陷 位错 掺铬氟化钙锂 laser crystal Cr:LiCaAlF_6 crystal crystal defects dislocation inclution subgrain boundary
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