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用光学仪器测量表面粗糙度参数的微机处理方法

COMPUTER TREATMENT FOR MEASURING SURFACE ROUGHNESS PARAMETERS BY THE USE OF OPTICAL INSTRUMENTS
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摘要 本文利用BASIC语言编制了一套应用程序,可利用光切显微镜实测的数据,得到国家标准规定的六个参数。 Through the use of BASIC language, a series of applied programmes are compiled.Usingdata measured by light cuttirig microscope,these programmes succeed in helping to obtain sixparameters required by the State standard.
作者 田朝平
出处 《内蒙古工业大学学报(自然科学版)》 1995年第4期23-28,共6页 Journal of Inner Mongolia University of Technology:Natural Science Edition
关键词 表面粗糙度参数 测量 程序设计 光学仪器 微机 surface roughness parameter measure programme compiling
  • 相关文献

参考文献3

  • 1翟绪圣编著..表面粗糙度测量[M].北京:中国计量出版社,1989:287.
  • 2俞汉清等编..表面粗糙度及测量[M].北京:中国标准出版社,1987:163.
  • 3李柱主编..互换性与测量技术基础[M].北京:计量出版社,1984:507.

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