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为集成电路进行微微秒级时间间隔测量

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摘要高速逻辑系列器件的出现,提出了微微秒数量级时间间隔的测量问题。要进行这种测量,我们必须有精度高达数十微微秒,重复性为1微微秒的测量系统。本文简要介绍了能进行这种测量的优选系统和应予重视的各种影响因素。

作者邵大川

机构地区沈阳工业大学

出处《电子测量技术》北大核心 1995年第2期36-39,共4页 Electronic Measurement Technology

关键词逻辑器件时间间隔精度重复性集成电路

分类号 TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]

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电子测量技术

1995年第2期

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