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X射线测绘元器件内部结构、尺寸时工艺参数的选择

CHOICE OF PARAMETERS FOR X-RAY INSPECTION OF INTERNAL STRUCTURE AND SIZE OF PARTS

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摘要 X 射线探伤以它直观、底片可存档等优点,在无损检测中占有很重要的地位,这是大家所共知的;但它用于元器件内部结构测绘却较少为人们所知或被应用,有的即使应用了这一技术,也不太容易获得清晰的底片。几年来我厂承接了不少电子、光学元器件的测绘任务,逐步摸索了一个可行的选择射线透照工艺参数测绘方法。

作者丁志成

机构地区南京航空附件厂

出处《无损检测》北大核心 1989年第4期110-110,共1页 Nondestructive Testing

关键词 X射线测绘元器件工艺参数

分类号 TN603 [电子电信—电路与系统]

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无损检测

1989年第4期

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