期刊文献+

高速接口芯片测试解决方案

High-Speed Device Test Solution
下载PDF
导出
摘要 近年来,伴随着一系列的高速数据传输标准在实际产品中的应用,对于这类芯片的评价测试难度也变得越来越大。爱德万测试根据这类要求,开发了5Gbps信号的高速测试选件。 Advantest developed the 5 Gbps option for performing the high-speed differential logic tests, which are compatible with the high-speed differential serial interface measuring that has the speed of several Gbps. In this paper, we introduced the High-speed Option Specifications and the device test solutions.
作者 李金铁
出处 《电子工业专用设备》 2005年第4期29-31,共3页 Equipment for Electronic Products Manufacturing
关键词 高速接口 差分传送 高速测试选件 测试系统 High-speed interface Differential transmission High-speed option Test system
  • 相关文献

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部