CMOS存储单元的开路故障可测性设计被引量：3

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摘要在CMOS电路中,静态寄存器和触发器的某些电路分支的开路故障是不可检测的。当这些电路分支发生开路故障时,静态电路就变为动态电路,使故障的检测变为不可能。事实上,大部分时序存储器中的不可检测开路故障都属于这一类。针对这一情况,本文提出了可使该类故障变为可测的设计方法,并给出了两个开路故障完全可测的触发器电路。

作者刘建都

机构地区空军导弹学院

出处《微电子测试》 1994年第2期23-24,22,共3页

关键词存储单元 CMOS 开路故障可测性设计

分类号 TP333.52 [自动化与计算机技术—计算机系统结构]

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