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纳米超微粉晶粒尺寸测量技术 被引量:1

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摘要 纳米材料的性质强烈依赖晶粒尺寸大小。测量纳米超微粉中晶料尺寸的技术无论从制备上还是从应用上都具有重大的意义。本文以纳米氧化锡晶粒尺寸测量为例,分析比较了透射电镜(TEM)、扫描电镜(SEM)高分辨电子显微镜(HREM)和X射线衍射(XRD)的测量结果。对它们在工业上应用价值进行了综合评述。
出处 《新技术新工艺》 北大核心 1993年第6期2-3,5,共3页 New Technology & New Process
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