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德摩根一致代数可度量化的一个充要条件

A Sufficient and Necessary Condition for Metrization of a de Morgan Algebra of Uniformity
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摘要 讨论德摩根代数上的拟一致结构与度量之间的联系 ,给出德摩根一致代数可伪度量化的一个充分必要条件 。 In this paper we study the connections between quasi-uniformities and metrics in de morgan algebra. We give a sufficient and necessary condition for a demorgan algebra of Uniformity to be (pseudo-metrizable.) All conclusions include the related results of the classical topological space and the (fuzzy) topological space as special cases.
出处 《模糊系统与数学》 CSCD 2004年第4期9-12,共4页 Fuzzy Systems and Mathematics
基金 湖南省自然科学基金资助项目
关键词 一致 可数基 伪度量 Uniformity Countable Base Pseudo-metric
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