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基于光谱学方法半导体激光器热特性测量 被引量:1

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摘要 报道了一种基于激射光谱进行半导体激光器热特性测量的实验方法。结果表明,基于分析在不同脉冲驱动条件下1.3μm InAsP/InGaAsP脊波导应变补偿多量子阱激光器的激射光谱,可以得到该激光器的热阻等热特性参数。实验中也测量了该激光器的其他与热特性相关的光谱特性,如激光器激射光谱随驱动电流的变化等。该方法也可用于其他波段半导体激光器的热特性测量。
出处 《飞通光电子技术》 2002年第3期132-135,共4页
  • 相关文献

参考文献3

  • 1Mala Kala. Optical Shop Test[M]. New York: John Wiley & Sons, Ine, 1992. 被引量:1
  • 2CHEN Jin-bang. Large aperture-high accuracy phase shifting digital fiat interferometer[J]. Opt Eng, 1996, 35 (7):1936-1942. 被引量:1
  • 3Chen J, Chen L, Huang S, et al. Infrared phase-shifting digit-al interferometer[A]. Proc SPIE[C]. 1996, 2899. 532-538. 被引量:1

同被引文献6

引证文献1

二级引证文献5

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