X荧光光谱法测定硅铁中主次量元素被引量：2

Determination of the Major and Minor Elements in Ferrosilicon by XRFS

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摘要使用粉末压块法，制得样品块，采用理论α系数校正基体效应，结合经验校正系数对工作曲线进行优化后对硅铁样品进行荧光定量分析。

作者徐永宏

机构地区梅山技术中心

出处《梅山科技》 2004年第2期18-20,30,共4页

关键词硅铁 X荧光光谱法测定粉末压块法炼钢硅锰磷铝钙铬 XRFS Ferrosilicon P. P.

分类号 TF702.4 [冶金工程—钢铁冶金] TF645

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