光学元件测试与设备

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摘要 TB92 2002010640功率谱密度函数评价方法探讨=Analysis on evaluat-ing method of power spectral density function[刊,中]/徐芳,魏全忠,伍凡(中科院光电技术研究所.四川,成都(610209))∥光学仪器.—2000,22(3).

出处《中国光学》 EI CAS 2002年第1期88-88,共1页 Chinese Optics

关键词功率谱密度函数光学元件评价方法探讨强激光傅里叶变换频谱光学系统光学仪器中科院技术研究所元件测试

分类号 TH74 [机械工程—光学工程]

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