期刊文献+

两种远场测试场天线方向图测试分析 被引量:4

Antenna Pattern Measurement and Analysis on Two Far-Field Test Grounds
下载PDF
导出
摘要 根据天线远场测试理论,结合应用实例,分析了微波暗室和斜天线测试场作为天线远场测试场的适应性。对从微波暗室和斜天线测试场得到的双脊喇叭天线远场方向图及相关数据进行了分析,总结出两种天线测试场对天线远场测试影响的特点和规律,并对实际应用提出了指导性建议。 根据天线远场测试理论,结合应用实例,分析了微波暗室和斜天线测试场作为天线远场测试场的适应性。对从微波暗室和斜天线测试场得到的双脊喇叭天线远场方向图及相关数据进行了分析,总结出两种天线测试场对天线远场测试影响的特点和规律,并对实际应用提出了指导性建议。
出处 《微波学报》 CSCD 北大核心 2012年第S3期249-252,共4页 Journal of Microwaves
关键词 远场 测试场 测试 天线方向图 far-field test ground test antenna pattern
  • 相关文献

参考文献2

  • 1(美)JohnD.Kraus,(美)RonaldJ.Marhefka著,章文勋译.天线[M]. 电子工业出版社, 2006 被引量:1
  • 2毛乃宏等编著..天线测量手册[M].北京:国防工业出版社,1987:357.

同被引文献33

引证文献4

二级引证文献2

相关作者

内容加载中请稍等...

相关机构

内容加载中请稍等...

相关主题

内容加载中请稍等...

浏览历史

内容加载中请稍等...
;
使用帮助 返回顶部