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数字专用集成电路检测系统的设计

The Design of Digital ASIC Testing System

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摘要数字专用集成电路特性复杂,功能特殊,用通用的测试方法难以全面检测其静、动态特性.针对这一问题,本文结合一个具体的存储测试专用集成电路设计了一个专用检测系统,介绍了检测系统的原理并给出了检测系统的硬件和软件设计方案.

作者黄庆彩祖静裴东兴

机构地区华北工学院

出处《测试技术学报》 2004年第z2期47-50,共4页 Journal of Test and Measurement Technology

关键词专用集成电路存储测试测试系统

分类号 TB9-55 [一般工业技术—计量学]

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测试技术学报

2004年第z2期

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