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ADI LTC6813低频抗扰测试解决方案

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摘要 引言通常汽车零部件受到的磁场干扰可以分为内部或外部干扰源干扰,其中内部干扰源包括汽车的电动马达、制动器等;而外部干扰源包括功率传输线、充电站等。低频磁场抗扰测试MFI的方法是将DUT暴露在干扰磁场中进行测试。辐射环可以产生干扰磁场,还可以用于小型DUT测试,或者采用多点放置的方法来测试大型DUT。本文为大家介绍一种BMS采样板针对低频磁场抗扰测试的解决方案。
作者 艾伟
机构地区 骏龙科技
出处 《世界电子元器件》 2023年第5期39-41,共3页 Global Electronics China
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