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器件的失效与DC参数测试系统的关系 被引量：1
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作者 邵金仙 《电测与仪表》 北大核心 1996年第5期11-15,共5页
本文叙述集成电路测试中遇到的几个主要问题，分析了器件测试中经常使用的ＤＣ参数测试系统的结构、与其失效参数的关系及改进的方法。对集成电路生产、测试与使用者均有一定参考作用。
关键词 集成电路 DC参数 加电测量 测试系统
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