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近红外光谱仪在早产儿脑损伤方面的研究进展 被引量：1
1
作者 向鑫宇(综述) 韦红(审校) 《检验医学与临床》 CAS 2022年第3期416-418,共3页
近年来,随着医学技术的不断发展,早产儿的存活率明显增加,同时可存活早产儿的胎龄也越来越小,随之早产儿脑损伤发生风险越来越高,引起人们对这些患儿远期神经系统预后的担忧。目前研究显示,导致早产儿脑损伤的病因主要是脑的缺血缺氧及... 近年来,随着医学技术的不断发展,早产儿的存活率明显增加,同时可存活早产儿的胎龄也越来越小,随之早产儿脑损伤发生风险越来越高,引起人们对这些患儿远期神经系统预后的担忧。目前研究显示,导致早产儿脑损伤的病因主要是脑的缺血缺氧及炎症[1]。目前应用最广泛的机体氧合状态监测方法是外周脉搏血氧饱和度监测及动脉血气分析,但它们主要反映机体小动脉的氧分压及氧饱和度[2],不能反映脑组织局部的氧合状态。 展开更多
关键词 近红外光谱仪 早产儿 脑损伤
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