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一种新的滤纸基质固体表面低温荧光(燐光)测定装置 被引量：4
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作者 何晓东 蔡东 +1 位作者 邓桂春 臧树良 《分析化学》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2002年第7期880-884,共5页
对自行研制的铜制滤纸基质低温荧光 (　光 )测定的样品支架 ,进行了滤纸基质固体表面低温荧光测定的可行性研究。与同类冷冻装置和室温测定装置比较 ,本装置用于滤纸基质固体表面低温荧光 (　光 )测定具有以下优点 :样品的分析周期大大... 对自行研制的铜制滤纸基质低温荧光 (　光 )测定的样品支架 ,进行了滤纸基质固体表面低温荧光测定的可行性研究。与同类冷冻装置和室温测定装置比较 ,本装置用于滤纸基质固体表面低温荧光 (　光 )测定具有以下优点 :样品的分析周期大大地缩短 ,由 4 5min缩短为 5～ 6min;装置简单、便宜耐用 ;操作简便 ,简化了室温测定时的滤纸干燥程序 ;应用范围广 ;方法的重现性好 ,检样分析结果的相对标准偏差RSD %小于1 0 % ;荧光 (　光 )分析灵敏度高 ,检出限低 。 展开更多
关键词 测定装置 滤纸基质 固体表面 低温荧光分析 低温燐光分析
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