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集成电路可靠性应用技术 被引量：2
1
作者 闫立 《电子质量》 2005年第4期26-28,47,共4页
本文主要论述集成电路加速寿命测试理论方法和IC常见失效模式。加速寿命测试包括定性高加速寿命HALT测试技术和定量加速寿命测试Arrheniusmodel等,该测试技术主要应用于IC设计前端识别失效模式和IC设计定型阶段估算IC正常使用条件下的... 本文主要论述集成电路加速寿命测试理论方法和IC常见失效模式。加速寿命测试包括定性高加速寿命HALT测试技术和定量加速寿命测试Arrheniusmodel等,该测试技术主要应用于IC设计前端识别失效模式和IC设计定型阶段估算IC正常使用条件下的寿命信息,及时有效的评估IC设计平均寿命;在电子产品制造系统中,常常有两种失效模式:ESD静电损伤和LATCH-UP失效现象,对以上可靠性指标和理论作简要的论述。 展开更多
关键词 电路可靠性 应用技术 失效模式 寿命测试 测试技术 IC设计 可靠性指标 理论方法 集成电路 HALT 正常使用 设计定型 平均寿命 制造系统 电子产品 失效现象 静电损伤 高加速 测试包 ESD 前端
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