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基于活动轮廓的多分辨率自适应图像分割 被引量:4
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作者 夏利民 谷士文 沈新权 《小型微型计算机系统》 CSCD 北大核心 2001年第2期161-164,共4页
本文在活动轮廓模型的基础上 ,提出了一种自适应图像分割方法 .引入了新的与图象统计信息、梯度信息有关的加权外部能量 ,使得分割结果与模型的初始位置无关 ,不受噪声影响 ;利用 ACD方法使模型自适应地改变其拓扑结构 ;为了提高图象分... 本文在活动轮廓模型的基础上 ,提出了一种自适应图像分割方法 .引入了新的与图象统计信息、梯度信息有关的加权外部能量 ,使得分割结果与模型的初始位置无关 ,不受噪声影响 ;利用 ACD方法使模型自适应地改变其拓扑结构 ;为了提高图象分割的速度和鲁棒性 ,提出了多分辨率图象分割算法 .利用该方法对一些形状、拓扑结构复杂的物体进行了分割实验 ,结果验证了该方法的有效性 . 展开更多
关键词 活动轮廓 自适应图像分割 多分辨率 图像处理 计算机
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新型超硬材料氮化碳CN_x的离子束合成的研究
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作者 辛火平 林成鲁 +5 位作者 许华平 邹世昌 石晓红 吴兴龙 朱宏 P.L.F.Hemment 《中国科学(E辑)》 CSCD 1996年第3期210-215,共6页
报道了利用100Kev高剂量N^+在不同的温度条件下注入C膜合成新型超硬材料β-C_3N_4的新结果.对这种新材料进行了X射线光电子能谱,Fourier变换红外光谱、Raman光谱、剖面透射电子显微镜、Rutherford背散射谱、X射线衍射及Vickers显微硬度... 报道了利用100Kev高剂量N^+在不同的温度条件下注入C膜合成新型超硬材料β-C_3N_4的新结果.对这种新材料进行了X射线光电子能谱,Fourier变换红外光谱、Raman光谱、剖面透射电子显微镜、Rutherford背散射谱、X射线衍射及Vickers显微硬度等测量.结果表明利用100Kev高剂量N^+注入C膜成功地合成了埋层氮化碳CN_(?)膜中C≡N共价键的形成导致膜的硬度明显提高.最后利用Implantation of Reactive Ions into Silicon (IRIS)计算程序模拟了相同条件的N^+注入C膜合成埋层β-C_3N_4的形成过程,结果与实验符合较好. 展开更多
关键词 离子束合成 C≡N共价键 超硬材料 氮化碳
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锗离子注入硅单晶的非晶化及二次缺陷的研究
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作者 范缇文 张敬平 P.L.F.Hemment 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1993年第12期734-737,T001,共5页
本文用卢瑟福背散射(RBS),横断面透射电子显微镜(XTEM)及微区电子衍射技术研究了锗离子注入硅单晶中的非晶化及二次缺陷的特性。离子注入能量为400keV,剂量范围为1×100^(13)至1×10^(15)/cm^2,离子束流强度为0.046μA/cm^2,注... 本文用卢瑟福背散射(RBS),横断面透射电子显微镜(XTEM)及微区电子衍射技术研究了锗离子注入硅单晶中的非晶化及二次缺陷的特性。离子注入能量为400keV,剂量范围为1×100^(13)至1×10^(15)/cm^2,离子束流强度为0.046μA/cm^2,注入温度为室温。实验发现,在本工作的离子注入条件下,入射锗离子使硅单晶表面注入层开始非晶化的起始剂量大于0.6×10^(14)/cm^2。形成一个完整匀质表面非晶层所需的临界剂量为1×10^(15)/cm^2。热退火后产生的二次缺陷特性极大地受到退火前样品注入层非晶化程度的影响。 展开更多
关键词 单晶硅 非晶化 缺陷 离子注入
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Si_(0.5)Ge_(0.5)合金的热氧化物的研究
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作者 邢益荣 崔玉德 +4 位作者 殷士端 张敬平 李侠 朱沛然 徐田冰 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 1995年第7期491-495,共5页
利用卢瑟福背散射(RBS)、X光电子谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES)分析,研究了Si0.5Ge0.5合金在1000℃下湿氧化所生成的氧化物的特征.结果表明:这种氧化物为双层结构.靠近表面的一层为(Si,Fe)Ox... 利用卢瑟福背散射(RBS)、X光电子谱(XPS)和俄歇电子能谱(AES)分析,研究了Si0.5Ge0.5合金在1000℃下湿氧化所生成的氧化物的特征.结果表明:这种氧化物为双层结构.靠近表面的一层为(Si,Fe)Ox混合层,在其下面是纯的SiOx层,Ge被排斥并堆积在SiOx/Si0.5Ge0.5界面附近.在本实验条件下,(Si,Ge)Ox层的厚度约为2500A,它的形成时间不足5分种.当氧化的时间延长时,SiOx的厚度随之增加,但(Si,Ge)Ox的厚度几乎不变.还发现:在这些氧化物中,Si2p和Ge3d芯能级的化学位移比在单晶Si和Ge上生长的SiOx和GeO2中相应的值明显增大。 展开更多
关键词 半导体材料 硅锗合金 热氧化物
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